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Implantologie
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Implantologie 15 (2007), Nr. 4     21. Dez. 2007
Implantologie 15 (2007), Nr. 4  (21.12.2007)

Seite 417-426


Retention von geklebten Zirkonoxidkeramikhülsen auf Titanimplantatpfosten
Eschbach, Stephanie / Ebert, Agnes / Hedderich, Jürgen / Kern, Matthias
Das Ziel der vorliegenden Untersuchung war es, die Höhe und Stabilität der Retention von auf Titanimplantatpfosten verklebten Zirkonoxidkeramikhülsen (beides: Camlog Biotechnologies, Wimsheim) nach Wasserlagerung und Temperaturwechselbelastung zu evaluieren. Gleichzeitig wurde der Einfluss der Klebefugenbreite bei zwei unterschiedlichen Vorbehandlungsmethoden untersucht. Es wurden Zirkonoxidhülsen mit Klebefugenbreiten von 30 µm und 60 µm mit Panavia F (Kuraray, Osaka, Japan) auf Titanimplantatpfosten verklebt. Für jede Klebenfugenbreite wurden die Klebeflächen entweder mit Alkohol im Ultraschallbad gereinigt oder zusätzlich vorher korundgestrahlt. Nach vier verschiedenen Zeiträumen im Wasserbad und Thermozyklen wurde die Retentionshöhe der Zirkonoxidhülsen im Zugtest evaluiert. Insgesamt zeigte sich, dass die Vorbehandlung der Oberflächen, die Klebefugenbreite und die Lagerungsbedingungen einen signifikanten Einfluss auf die Retentionshöhe hatten. Das Korundstrahlen verbesserte die Retentionshöhe signifikant. Die Bruchmodi waren vorwiegend adhäsiv. Proben mit Klebefugen von 30 µm wiesen signifikant höhere Haftwerte auf als Proben mit Klebefugen von 60 µm. Es wurde geschlussfolgert, dass die Vorbehandlung der Oberflächen und die Klebefugenbreite einen signifikanten Einfluss auf die Höhe der Retention von auf Titanabutments verklebten Zirkonoxidkeramikhülsen haben. Für den klinischen Einsatz sind eine Klebefugenbreite von 30 µm und das Korundstrahlen beider zu verklebender Oberflächen zu empfehlen. Das aufgrund der Ergebnisse empfohlene labortechnische und klinische Vorgehen wird anhand eines Patientenfalls dargestellt.

Schlagwörter: Keramikabutment, Korundstrahlen, Retention, Klebeverbund, Titan, Zirkonoxidkeramik
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